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                  首頁 > 技術與支持 > 58212-C LED 芯片電測系統(tǒng)技術參數(shù)
                  58212-C LED 芯片電測系統(tǒng)技術參數(shù)
                  點擊次數(shù):1414 更新時間:2020-08-11

                  58212-C LED 芯片電測統(tǒng) 

                  主要特色:

                  • 高速及高精度
                  • 支援水平型,垂直型和倒裝型芯片
                  • 完整LED電性測試範圍(200V/2A)
                  • 可支援到8英寸晶圓
                  • Chroma大面積光偵測器
                  • 強大的芯片位置掃描算法
                  • 外部光屏蔽設計
                  • 完整的分析工具和統(tǒng)計報告

                  測試項目

                  • 電源特性量測 :
                    - Forward Voltage Measurement (Vf )
                    - Reverse Breakdown Voltage Measurement(Vrb)
                    - Reverse Leakage Current (Ir)
                    - SCR Detection
                  • 光特性量測 :
                    - Optical Power (mw, lm, mcd)
                    - Dominant Wavelength (Wd)
                    - Peak Wavelength (Wp)
                    - Full Width at Half Maximum (FWHM)
                    - CIExy - CCT - CRI

                  硬體設備

                  • 自動化 LED wafer/chip 點測設備
                  • 電性測試模組
                  • 光學測試模組
                  • 選配ESD 測試模組

                  致茂58212-C是一臺自動化的LED外延片/芯片探 針測試設備,提供快速、準確的LED測量測且整 體量測時間<125ms *1。

                  系統(tǒng)的設計採用了靈活的設計為不同類型的LED 結構包括橫向型,垂直型和倒裝芯片類型。用戶 可以選擇合適的結構類型LED測量。完整掃描程 序可提供獨立的晶圓圖以保證測試的精度。專利 的探針頭可防止待測物的刮傷並確保每一個LED 接觸。

                  透過致茂獨特的光學設計與元件可取得精確且穩(wěn) 定快速之光學數(shù)據(jù)如主波長、峰波長、色溫等, 該系統(tǒng)具備完整之電性量測單元,無論順向電 壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性, 均可於一次滿足使用者的測試需求。

                  58212-C包含彈性調(diào)整的軟體操作界面及先進的 邏輯演算法使得生產(chǎn)效益大幅提升 ;完善的統(tǒng)計 報表及分析工具可以讓使用者用輕鬆掌握生產(chǎn)狀 況。

                  Note *1: 測試條件:在間距300um、5道電性測 項、1道光學測項條件下取樣。由於LED的特性的 差異,測量結果可能會有所不同。

                   

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